本發(fā)明涉及向物質(zhì)照射一次光并對(duì)從物質(zhì)產(chǎn)生的二次光進(jìn)行分析的分光分析裝置以及分光分析方法。

背景技術(shù)：

1、向物質(zhì)照射一次光，對(duì)從物質(zhì)產(chǎn)生的二次光進(jìn)行測(cè)定，基于二次光的光譜，對(duì)物質(zhì)進(jìn)行分析。例如，進(jìn)行拉曼分光分析或熒光分光分析。為了取得二次光的光譜，有時(shí)采用使用分光器以及拍攝元件的方法。拍攝元件例如是作為二維圖像傳感器的ccd(電荷耦合器件(charge-coupled?device))圖像傳感器或cmos(互補(bǔ)氧化物半導(dǎo)體器件(complementarymetal-oxide-semiconductor))圖像傳感器。二次光由分光器分光，按波長(zhǎng)(或波數(shù)，以下同樣)向不同的方向行進(jìn)，在拍攝元件上的不同位置按波長(zhǎng)被受光。例如，受光位置在拍攝元件上在x軸方向上直線狀地排列。拍攝元件上的受光位置與波長(zhǎng)具有相關(guān)性，因此能夠根據(jù)拍攝元件的檢測(cè)結(jié)果得到二次光的光譜。

2、在醫(yī)藥品的開(kāi)發(fā)中，在對(duì)用于培養(yǎng)細(xì)胞的培養(yǎng)基所包含的成分進(jìn)行分析的情況下等，有時(shí)對(duì)醫(yī)學(xué)類或生物類的試樣進(jìn)行分析。在拉曼分光分析等分光分析中，由于周圍環(huán)境溫度變動(dòng)，測(cè)定的光的波長(zhǎng)發(fā)生偏移。在對(duì)醫(yī)學(xué)類或生物類的試樣進(jìn)行分析時(shí)，測(cè)定期間有時(shí)會(huì)長(zhǎng)達(dá)幾天到幾周等長(zhǎng)期間。在測(cè)定期間為長(zhǎng)期間的情況下，波長(zhǎng)的偏移對(duì)分析結(jié)果造成的影響變大。在專利文獻(xiàn)1中公開(kāi)了在拉曼分光分析中對(duì)光的波長(zhǎng)進(jìn)行校正的技術(shù)。

3、現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

4、專利文獻(xiàn)

5、專利文獻(xiàn)1：日本專利第6291817號(hào)公報(bào)

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明要解決的課題

2、在以往的拉曼分光分析中，在對(duì)光的波長(zhǎng)進(jìn)行校正的技術(shù)中，在測(cè)定拉曼散射光的前后測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)光，基于標(biāo)準(zhǔn)光的波長(zhǎng)，對(duì)在測(cè)定拉曼散射光的過(guò)程中得到的光的波長(zhǎng)的偏移進(jìn)行線性近似。由于無(wú)法保證在測(cè)定拉曼散射光的過(guò)程中波長(zhǎng)的偏移隨著時(shí)間的經(jīng)過(guò)而線性地變化，所以無(wú)法正確地對(duì)波長(zhǎng)進(jìn)行校正。因此，難以提高拉曼分光分析的精度。另外，在測(cè)定期間為長(zhǎng)期間的情況下，拉曼分光分析的精度進(jìn)一步惡化。

3、本發(fā)明是鑒于這種情況而完成的，其目的在于提供一種通過(guò)更正確地進(jìn)行檢測(cè)結(jié)果的校正而能夠提高分光分析的精度的分光分析裝置以及分光分析方法。

4、用于解決課題的手段

5、本發(fā)明的一個(gè)方式的分光分析裝置的特征在于，具備：拍攝元件，具有第一區(qū)域以及與所述第一區(qū)域不同的第二區(qū)域，檢測(cè)入射到所述第一區(qū)域以及所述第二區(qū)域的光；第一光學(xué)系統(tǒng)，向試樣照射一次光，向所述第一區(qū)域入射從所述試樣產(chǎn)生的二次光；第二光學(xué)系統(tǒng)，向所述第二區(qū)域入射標(biāo)準(zhǔn)光；以及分析部，基于入射到所述第二區(qū)域的所述標(biāo)準(zhǔn)光的檢測(cè)結(jié)果，對(duì)入射到所述第一區(qū)域的所述二次光的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行校正。

6、在本發(fā)明的一個(gè)方式中，分光分析裝置向試樣照射一次光，向拍攝元件的第一區(qū)域入射來(lái)自試樣的二次光，向拍攝元件的第二區(qū)域入射標(biāo)準(zhǔn)光，檢測(cè)二次光和標(biāo)準(zhǔn)光。另外，分光分析裝置基于入射到第二區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)光的檢測(cè)結(jié)果，對(duì)入射到第一區(qū)域的二次光的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行校正。由于二次光和標(biāo)準(zhǔn)光向拍攝元件的互相不同的區(qū)域入射，所以能夠容易地區(qū)別檢測(cè)二次光和標(biāo)準(zhǔn)光，能夠容易地基于標(biāo)準(zhǔn)光的檢測(cè)結(jié)果對(duì)二次光的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行校正。通過(guò)基于標(biāo)準(zhǔn)光的檢測(cè)結(jié)果的校正，能夠消除檢測(cè)到二次光的時(shí)刻的實(shí)際的二次光的檢測(cè)結(jié)果的偏差。

7、本發(fā)明的一個(gè)方式的分光分析裝置的特征在于，所述第一光學(xué)系統(tǒng)對(duì)所述二次光進(jìn)行分光，向所述第一區(qū)域入射分光后的所述二次光，所述第二光學(xué)系統(tǒng)對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)光進(jìn)行分光，向所述第二區(qū)域入射分光后的所述標(biāo)準(zhǔn)光，在所述第一區(qū)域中，波長(zhǎng)互相不同的多個(gè)光入射的多個(gè)入射位置直線狀地排列，所述第二區(qū)域在所述拍攝元件上配置于在與所述多個(gè)入射位置排列的方向交叉的方向上從所述第一區(qū)域的位置偏離的位置。

8、在本發(fā)明的一個(gè)方式中，在拍攝元件的第一區(qū)域中，分光后的波長(zhǎng)不同的多個(gè)光入射的多個(gè)入射位置直線狀地排列。第二區(qū)域配置于在與多個(gè)入射位置排列的方向交叉的方向上從第一區(qū)域的位置偏離的位置。無(wú)論二次光具有怎樣的波長(zhǎng)，二次光的入射位置都不會(huì)包含在第二區(qū)域中。因此，能夠容易地區(qū)別向拍攝元件入射的二次光和標(biāo)準(zhǔn)光。

9、本發(fā)明的一個(gè)方式的分光分析裝置的特征在于，所述分光分析裝置還具備存儲(chǔ)部，所述存儲(chǔ)部預(yù)先存儲(chǔ)所述標(biāo)準(zhǔn)光的波長(zhǎng)，所述分析部確定入射到所述第二區(qū)域的所述標(biāo)準(zhǔn)光的波長(zhǎng)，基于確定出的波長(zhǎng)與所述存儲(chǔ)部預(yù)先存儲(chǔ)的所述標(biāo)準(zhǔn)光的波長(zhǎng)的偏差，對(duì)入射到所述第一區(qū)域的所述二次光的波長(zhǎng)進(jìn)行校正。

10、在本發(fā)明的一個(gè)方式中，分光分析裝置基于標(biāo)準(zhǔn)光的波長(zhǎng)的偏差，對(duì)二次光的波長(zhǎng)進(jìn)行校正。通過(guò)基于標(biāo)準(zhǔn)光的檢測(cè)結(jié)果的校正，能夠消除檢測(cè)到二次光時(shí)刻的實(shí)際的波長(zhǎng)的偏差。因此，能夠正確地對(duì)二次光的波長(zhǎng)進(jìn)行校正。

11、本發(fā)明的一個(gè)方式的分光分析裝置的特征在于，還具備：光源；以及光生成部，從所述光源發(fā)出的光生成所述一次光和所述標(biāo)準(zhǔn)光。

12、在本發(fā)明的一個(gè)方式中，分光分析裝置從光源發(fā)出的光生成一次光和標(biāo)準(zhǔn)光。能夠使所需的光源為單一光源。

13、本發(fā)明的一個(gè)方式的分光分析裝置的特征在于，所述第一光學(xué)系統(tǒng)與所述第二光學(xué)系統(tǒng)共有分光器，所述第一光學(xué)系統(tǒng)向所述分光器入射所述二次光，所述第二光學(xué)系統(tǒng)向所述分光器內(nèi)的與所述二次光入射的位置不同的位置入射所述標(biāo)準(zhǔn)光，所述分光器對(duì)所入射的光進(jìn)行分光，向所述拍攝元件入射分光后的光。

14、在本發(fā)明的一個(gè)方式中，分光分析裝置使用同一分光器對(duì)二次光進(jìn)行分光并向拍攝元件入射分光后的二次光，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)光進(jìn)行分光并向拍攝元件入射分光后的標(biāo)準(zhǔn)光。通過(guò)二次光和標(biāo)準(zhǔn)光共有分光器，能夠使分光分析裝置小型化。

15、本發(fā)明的一個(gè)方式的分光分析裝置的特征在于，所述第二光學(xué)系統(tǒng)包括環(huán)形狹縫，所述環(huán)形狹縫位于向所述分光器入射前的所述標(biāo)準(zhǔn)光的路徑上。

16、在本發(fā)明的一個(gè)方式中，分光分析裝置包括環(huán)形狹縫，所述環(huán)形狹縫位于向分光器入射前的標(biāo)準(zhǔn)光的路徑上。通過(guò)環(huán)形狹縫后的標(biāo)準(zhǔn)光環(huán)形地分布，在向同一分光器入射時(shí)，能夠向與二次光入射的位置不同的位置入射。向分光器的互相不同的位置入射且被分光后的二次光和標(biāo)準(zhǔn)光向拍攝元件的互相不同的區(qū)域入射。

17、本發(fā)明的一個(gè)方式的分光分析裝置的特征在于，所述二次光包含拉曼散射光。

18、在本發(fā)明的一個(gè)方式中，分光分析裝置檢測(cè)包含拉曼散射光的二次光。通過(guò)對(duì)二次光的波長(zhǎng)進(jìn)行校正，對(duì)拉曼位移(raman?shift)進(jìn)行校正。分光分析裝置能夠得到正確的拉曼光譜。

19、本發(fā)明的一個(gè)方式的分光分析方法的特征在于，使用拍攝元件，所述拍攝元件具有第一區(qū)域以及與所述第一區(qū)域不同的第二區(qū)域，檢測(cè)入射到所述第一區(qū)域以及所述第二區(qū)域的光，向所述第一區(qū)域入射從照射了一次光的試樣產(chǎn)生的二次光，向所述第二區(qū)域入射標(biāo)準(zhǔn)光，基于入射到所述第二區(qū)域的所述標(biāo)準(zhǔn)光的檢測(cè)結(jié)果，對(duì)入射到所述第一區(qū)域的所述二次光的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行校正。

20、在本發(fā)明的一個(gè)方式中，從被照射一次光的試樣產(chǎn)生的二次光向拍攝元件的第一區(qū)域入射并被檢測(cè)。標(biāo)準(zhǔn)光向拍攝元件的第二區(qū)域入射并被檢測(cè)。基于入射到第二區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)光的檢測(cè)結(jié)果，對(duì)入射到第一區(qū)域的二次光的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行校正。能夠容易地區(qū)別二次光和標(biāo)準(zhǔn)光，能夠容易地進(jìn)行校正。通過(guò)基于標(biāo)準(zhǔn)光的檢測(cè)結(jié)果的校正，能夠消除檢測(cè)到二次光的時(shí)刻的實(shí)際的二次光的檢測(cè)結(jié)果的偏差。

21、發(fā)明效果

22、在本發(fā)明中，能夠取得能夠正確地校正二次光的檢測(cè)結(jié)果、提高分光分析的精度等優(yōu)異的效果。