本發(fā)明涉及透明導(dǎo)電材料,特別是涉及一種具有cte過渡層的摻鋁氧化鋅靶材及其制備方法與應(yīng)用。
背景技術(shù):
1、透明導(dǎo)電氧化物(tco)薄膜因其良好的電導(dǎo)性、透明性和化學(xué)穩(wěn)定性,在眾多光電器件中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。傳統(tǒng)的tco材料如錫摻氧化銦(ito)和氟摻氧化錫(fto)等,面臨著原料昂貴、環(huán)境污染等問題,限制了其進(jìn)一步廣泛應(yīng)用。
2、鋁摻雜氧化鋅(azo)由于其低成本、優(yōu)良的電學(xué)性能和化學(xué)穩(wěn)定性,成為tco薄膜的理想替代材料。然而,現(xiàn)有的azo薄膜制備方法在薄膜質(zhì)量、均勻性以及電學(xué)性能等方面仍存在一定的改進(jìn)空間。例如,傳統(tǒng)azo薄膜制備以磁控濺射為主,主要是因?yàn)榇趴貫R射技術(shù)成膜均勻性好、膜層致密、薄膜純度高等優(yōu)勢。然而,磁控濺射過程中靶材局部溫升有超200℃的風(fēng)險(xiǎn),導(dǎo)致azo(cte≈7×10-6/k)與銅基底(cte≈17×10-6/k)或陶瓷基底的cte失配,界面產(chǎn)生微裂紋,引發(fā)靶材脫層與薄膜剝離。現(xiàn)有技術(shù)多采用分層鍍膜或更換靶材等方法解決cte失配問題,但存在工藝復(fù)雜、薄膜均勻性差等問題,亟需通過靶材結(jié)構(gòu)創(chuàng)新解決cte失配難題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本發(fā)明的目的是提供一種具有cte過渡層的摻鋁氧化鋅靶材及其制備方法與應(yīng)用,以解決上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題。
2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了如下方案:
3、本發(fā)明的技術(shù)方案之一:一種具有cte過渡層的摻鋁氧化鋅靶材,包括依次設(shè)置的azo層、azo/緩沖相復(fù)合層和包覆導(dǎo)電層的緩沖相層,其中,所述包覆導(dǎo)電層的緩沖相層與基材接觸;
4、所述azo/緩沖相復(fù)合層的原料包括azo、緩沖相粉體和cte調(diào)節(jié)劑;
5、所述包覆導(dǎo)電層的緩沖相層的原料包括導(dǎo)電層原料、緩沖相粉體和cte調(diào)節(jié)劑;
6、所述緩沖相粉體包括zro2、cu、tio2或sic,粒徑為50~100nm。
7、進(jìn)一步地,所述cte調(diào)節(jié)劑包括cu、tio2和sic中的一種或多種;
8、所述導(dǎo)電層原料包括納米ag。
9、進(jìn)一步地,所述cte調(diào)節(jié)劑的粒徑為50~100nm;
10、所述導(dǎo)電層的厚度為5~20nm。
11、本發(fā)明的技術(shù)方案之二:一種上述具有cte過渡層的摻鋁氧化鋅靶材的制備方法,包括以下步驟:
12、將azo層的原料球磨后壓制成型,然后燒結(jié),得到azo層;
13、將azo、緩沖相粉體和cte調(diào)節(jié)劑混合球磨后壓制成型,然后燒結(jié),得到azo/緩沖相復(fù)合層;
14、將緩沖相粉體和cte調(diào)節(jié)劑混合球磨后壓制成型,然后燒結(jié),得到緩沖相層,然后包覆導(dǎo)電層,得到包覆導(dǎo)電層的緩沖相層;
15、將azo層、azo/緩沖相復(fù)合層、包覆導(dǎo)電層的緩沖相層和基底依次連接,得到所述具有cte過渡層的摻鋁氧化鋅靶材。
16、進(jìn)一步地,制備azo層時(shí):
17、所述azo層的原料包括zno和al2o3混合粉體,或預(yù)摻鋁的zno粉體;zno和al2o3的純度大于99.5%,預(yù)摻鋁(al2o3)的zno粉體的純度大于99.5%。
18、所述zno和al2o3的質(zhì)量比為98:2~99:1;
19、所述預(yù)摻鋁的zno粉體的鋁離子摻雜比為0.5~4mol%(鋁離子的摩爾量占zn和al的總摩爾量的比例);
20、所述azo層的原料的平均粒徑為0.1~1μm;
21、所述球磨包括濕磨,球料質(zhì)量比為(8~15):1,液固比為1.5~2ml:1g,轉(zhuǎn)速為300~600rpm,時(shí)間為4~6h;球磨時(shí)漿料占球磨罐體積的80%;
22、所述壓制成型的壓力為10~40mpa,時(shí)間為30~60s;
23、所述燒結(jié)的升溫速率為8~12℃/min,溫度為1150~1350℃,保溫時(shí)間為3~5h;
24、所述azo層的厚度為3~6mm。
25、更進(jìn)一步地,當(dāng)具有cte過渡層的摻鋁氧化鋅靶材為圓形時(shí),制備azo層時(shí),圓形的中心區(qū)域(中心區(qū)域的半徑為圓形半徑的一半)鋪設(shè)zno和al2o3的質(zhì)量比為98:2的混合粉體;其他區(qū)域鋪設(shè)zno和al2o3的質(zhì)量比為99:1的混合粉體;
26、或者,圓形的中心區(qū)域(中心區(qū)域的半徑為圓形半徑的一半)鋪設(shè)鋁離子摻雜比為4mol%的預(yù)摻鋁的zno粉體;其他區(qū)域鋪設(shè)鋁離子摻雜比為1mol%的預(yù)摻鋁的zno粉體。
27、進(jìn)一步地,所述azo/緩沖相復(fù)合層包括上層和下層;
28、所述上層包括cte調(diào)節(jié)劑以及質(zhì)量比大于5:5的azo和緩沖相粉體;
29、所述下層包括cte調(diào)節(jié)劑以及質(zhì)量比小于5:5的azo和緩沖相粉體;
30、所述上層與所述azo層接觸,所述下層與所述包覆導(dǎo)電層的緩沖相層接觸;
31、所述cte調(diào)節(jié)劑的添加量為azo和緩沖相粉體總質(zhì)量的5~8%。
32、進(jìn)一步地,制備azo/緩沖相復(fù)合層時(shí):
33、所述球磨包括濕磨,球料質(zhì)量比為(8~15):1,液固比為1.5~2ml:1g,轉(zhuǎn)速為300~600rpm,時(shí)間為4~6h;
34、所述壓制成型的壓力為10~40mpa,時(shí)間為30~60s;
35、所述燒結(jié)的升溫速率8~12℃/min,溫度為1150~1350℃,保溫時(shí)間為3~5h;
36、所述azo/緩沖相復(fù)合層的厚度為1~3mm。
37、進(jìn)一步地,制備包覆導(dǎo)電層的緩沖相層時(shí):
38、所述球磨包括濕磨,球料質(zhì)量比為(8~15):1,液固比為1.5~2ml:1g,轉(zhuǎn)速為300~600rpm,時(shí)間為4~6h;
39、所述cte調(diào)節(jié)劑的添加量為緩沖相粉體質(zhì)量的5~8%;
40、所述壓制成型的壓力為10~40mpa,時(shí)間為30~60s;
41、所述燒結(jié)的升溫速率8~12℃/min,溫度為1150~1350℃,保溫時(shí)間為3~5h;
42、包覆導(dǎo)電層采用的納米銀的粒徑為5~20nm;
43、所述緩沖相層的厚度為1~2mm。
44、進(jìn)一步地,制備包覆(沉積)導(dǎo)電層的緩沖相層時(shí):
45、所述包覆導(dǎo)電層采用的方法包括物理氣相沉積法。
46、更進(jìn)一步地,所述物理氣相沉積法為磁控濺射法,利用磁控濺射法中的ar等離子體刻蝕預(yù)處理緩沖相層表面(粗糙度從2μm降至0.5μm)然后沉積導(dǎo)電層,避免表面粗糙導(dǎo)致沉積的納米ag導(dǎo)電層(5~20nm)出現(xiàn)孔隙或不連續(xù),形成電阻斷點(diǎn)的問題。
47、更進(jìn)一步地,所述沉積導(dǎo)電層的參數(shù)條件包括:濺射功率150w,氬氣流量為20sccm,基底溫度150℃,靶基距為8cm,靶材旋轉(zhuǎn)速率為10rpm,沉積時(shí)間為10~30min。
48、更進(jìn)一步地,所述連接的方法包括燒結(jié)或粘接。
49、靶材抗開裂能力主要依賴cte梯度設(shè)計(jì)(熱應(yīng)力降低82%),并非單純依賴連接強(qiáng)度。
50、更進(jìn)一步地,當(dāng)所述基底為銅基底時(shí),所述cte調(diào)節(jié)劑為cu;
51、當(dāng)所述基底為陶瓷時(shí),所述cte調(diào)節(jié)劑為tio2或sic。
52、更進(jìn)一步地,所述燒結(jié)在氮?dú)獗Wo(hù)氣氛下(氧含量<10ppm)進(jìn)行。
53、更進(jìn)一步地,所述包覆導(dǎo)電層在氮?dú)獗Wo(hù)氣氛下(氧含量<10ppm)進(jìn)行。
54、本發(fā)明的技術(shù)方案之三:一種上述具有cte過渡層的摻鋁氧化鋅靶材在高效光電器件制備中的應(yīng)用。
55、更進(jìn)一步地,所述應(yīng)用的方法,包括:將所述具有cte過渡層的摻鋁氧化鋅靶材通過磁控濺射法制備成azo薄膜。
56、所述磁控濺射法的參數(shù)條件包括:功率為200~250w,氬氣流量為30~40sccm,基底溫度為80~200℃,靶基距為6~8cm,靶材旋轉(zhuǎn)速率為5~10rpm,沉積時(shí)間為15~30min,原位退火溫度為100~200℃,原位退火時(shí)間為10~30min。
57、本發(fā)明相較于現(xiàn)有技術(shù)存在以下創(chuàng)新:
58、結(jié)構(gòu)創(chuàng)新:
59、(1)梯度過渡結(jié)構(gòu):設(shè)計(jì)三層漸變體系(azo層→azo/緩沖相復(fù)合層→包覆導(dǎo)電層的緩沖相層),可以使cte逐步過渡,消除界面熱應(yīng)力,提升靶材使用壽命與azo薄膜的沉積質(zhì)量,有效提升azo薄膜的穩(wěn)定性和均勻性。
60、(2)cte調(diào)節(jié)劑協(xié)同:cte調(diào)節(jié)劑cu(納米級(jí)cu顆粒,適配銅基底),可以填充晶界,通過塑性變形吸收熱應(yīng)變。
61、tio2或sic顆粒(適配陶瓷基底),通過熱膨脹各向異性調(diào)節(jié)應(yīng)力分布。
62、在制備azo/緩沖相復(fù)合層和包覆導(dǎo)電層的緩沖相層這兩個(gè)步驟中加入cte調(diào)節(jié)劑,使整個(gè)靶材都分布有cte調(diào)節(jié)劑,能在整個(gè)靶材結(jié)構(gòu)中發(fā)揮調(diào)節(jié)熱膨脹系數(shù)的作用。
63、(3)包覆導(dǎo)電層:納米ag層(5~20nm)可以形成連續(xù)導(dǎo)電通路,避免緩沖相(如zro2)阻斷靶材導(dǎo)電性能。
64、工藝創(chuàng)新:
65、在氮?dú)獗Wo(hù)氣氛下(氧含量<10ppm)低溫沉積導(dǎo)電層:采用磁控濺射法在≤200℃條件下沉積5~20nm納米ag層,可以使具有cte過渡層的摻鋁氧化鋅靶材的方塊電阻<10mω/□,解決了緩沖相電阻率高、導(dǎo)電阻斷問題;具有cte過渡層的摻鋁氧化鋅靶材在基底上的結(jié)合強(qiáng)度≥45mpa;通過磁控濺射法中的ar等離子體刻蝕預(yù)處理緩沖相層表面(粗糙度從2μm降至0.5μm),避免表面粗糙導(dǎo)致沉積的納米ag導(dǎo)電層(5~20nm)出現(xiàn)孔隙或不連續(xù),形成電阻斷點(diǎn)的問題。
66、工藝協(xié)同效應(yīng):
67、應(yīng)力調(diào)控:梯度結(jié)構(gòu)使靶材在磁控濺射過程中,因熱膨脹系數(shù)(cte)失配產(chǎn)生的熱應(yīng)力從300mpa降至60mpa以下,靶材經(jīng)100次熱循環(huán)(25~500℃)后無裂紋。
68、導(dǎo)電性能保持:納米ag層電阻<10-4ω·cm,可以提升靶材濺射效率,azo薄膜沉積的均勻性。
69、薄膜性能優(yōu)化:與傳統(tǒng)無過渡層靶材相比,本發(fā)明制備的靶材具有更好的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性,可以使薄膜載流子濃度波動(dòng)≤5%,遷移率標(biāo)準(zhǔn)差≤2cm2/v·s,透光率增加2%。
70、本發(fā)明公開了以下技術(shù)效果:
71、(1)本發(fā)明的具有cte過渡層的摻鋁氧化鋅靶材可以消除界面熱應(yīng)力,提升靶材使用壽命與azo薄膜的沉積質(zhì)量。
72、(2)本發(fā)明通過設(shè)計(jì)“azo層→azo/緩沖相復(fù)合層→包覆導(dǎo)電層的緩沖相層”的漸變結(jié)構(gòu),結(jié)合納米級(jí)cte調(diào)節(jié)劑與導(dǎo)電層包覆技術(shù),解決了磁控濺射過程中因熱膨脹系數(shù)(cte)失配導(dǎo)致的靶材開裂及膜層剝離問題。靶材cte從主體層到基底實(shí)現(xiàn)漸進(jìn)變化,與傳統(tǒng)無過渡層靶材相比熱應(yīng)力可以減少80%以上,靶材-基底結(jié)合強(qiáng)度顯著提升(結(jié)合強(qiáng)度≥50mpa);所制備的azo薄膜的載流子濃度≥5.0×1020cm-3,與傳統(tǒng)無過渡層靶材相比提高10~20%左右,遷移率≥27cm2/v·s,與傳統(tǒng)無過渡層靶材相比提升15~25%左右,透光率>80%,適用于高效光電器件制備。
73、(3)本發(fā)明經(jīng)過多組平行實(shí)驗(yàn)后,統(tǒng)計(jì)分析數(shù)據(jù)發(fā)現(xiàn),傳統(tǒng)無過渡層靶材在短時(shí)間的熱循環(huán)后(如首次熱循環(huán))就出現(xiàn)微裂紋,很快就因性能嚴(yán)重下降而失效,而本發(fā)明的具有梯度過渡結(jié)構(gòu)的靶材在經(jīng)歷100次熱循環(huán)后仍無裂紋;導(dǎo)電-緩沖協(xié)同設(shè)計(jì):納米ag層在緩沖相表面形成導(dǎo)電網(wǎng)絡(luò),既保持靶材導(dǎo)電性,又實(shí)現(xiàn)cte緩沖,解決傳統(tǒng)絕緣緩沖相的導(dǎo)電阻斷問題。并且本發(fā)明的制備工藝簡單,采用全流程低溫工藝(≤1350℃燒結(jié),≤200℃導(dǎo)電層沉積),可以制備獲得高性能azo薄膜,并且具備低溫優(yōu)勢。